型號：X-325i

X-325i是基于光學感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，最小樣氣量僅需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法諸如電化學、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。
使用熒光法特質的熒光貼片OXYDOT，可以實現無損檢測分析，應用于長期的包裝穩定性研究。也可應用于溶液配液罐頂空殘氧分析。

特征：
● 零樣氣消耗，只需要極少的樣氣量，最少0.1ml
● 可實現對頂空氧及液體溶解氧同時分析檢測
● 自動生成數據隨時間變化曲線
● 內置溫度和壓力補償
● 支持無損檢測分析，實現留樣分析
● 傳感器免維護，無需更換
● 設備零維護，零耗材
● 數據自動無限儲存，PDF導出